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荧光光谱仪 1.5.1 EDX6000E可专门针对金属镀层厚度进行分析。 1.5.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器简洁大方。 1.5.3采用美国最新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.5.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，测量更精确。 1.5.5七种光路校正准直系统
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